溫度的測量方法大致可分為兩種：接觸法和非接觸法。在接觸測溫法中，熱電偶和熱電阻溫度應(yīng)用最為廣泛，該方法的優(yōu)點是設(shè)備和操作簡單，測得的是物體的真實溫度等，其缺點是動態(tài)特性差，由于要接觸被測物體，所以對被測物體的溫度分布有影響，且不能應(yīng)用于甚高溫測量。非接觸測溫法主要以輻射測溫法為主。由于光譜發(fā)射率的影響，輻射測溫法無法測量到物體的真實溫度，只是分別為亮度溫度、顏色溫度、輻射溫度等。若想知道被測目標(biāo)的真實溫度，就需要對上述溫度進(jìn)行發(fā)射率修正，以往所采用的方法主要有發(fā)射率修正法、逼近黑體法、輔助源法、偏振光法。

　　瞬態(tài)多光譜輻射光學(xué)測溫系統(tǒng)是以普朗克熱輻射理論為基礎(chǔ)，將待測光源的輻亮度與標(biāo)準(zhǔn)光源的輻亮度進(jìn)行比較，從而測得待測光源溫度的一種光學(xué)儀器。是研究等離子體、沖擊波物理、爆轟物理和燃料燃燒過程、發(fā)動機瞬態(tài)爆燃爆震過程的重要設(shè)備。主要用于動載荷下瞬態(tài)高溫測量(1000℃～6000℃)，如燃料爆轟沖擊波溫度、燃料燃燒溫度、材料的沖擊溫度、定容彈爆燃過程、卸載溫度等的測量；也可用于其他瞬態(tài)超高溫度的測量；也可測量高壓下材料的其它參數(shù)，如測量沖擊波或稀疏波到達(dá)物質(zhì)界面的時間，以確定其沖擊波速度及高壓卸載聲速；還可用于測量爆炸溫度場的溫度。

　　多光譜測溫技術(shù)是測量高溫物體的有效手段,而測溫儀器的標(biāo)定的重要性如同儀器制造本身,針對高溫區(qū)的測溫儀器精度更是依賴于準(zhǔn)確的標(biāo)定.基于多光譜測溫理論的分光式測溫系統(tǒng),能夠完成VNIR波段的光譜采集,以及CCD輔助對準(zhǔn)的功能,但由于自制接收系統(tǒng)的波長選擇性,需要對其進(jìn)行標(biāo)定.通過高溫黑體爐提供標(biāo)定溫度,運行測溫系統(tǒng)樣機以整度標(biāo)定的方法取得輻射強度曲線,結(jié)合普朗克理論溫度曲線得出系統(tǒng)響應(yīng)函數(shù),并在解算過程中將該響應(yīng)函數(shù)用于修正所測得的所有溫度點輻射曲線,擬合理論溫度曲線,使測量結(jié)果更準(zhǔn)確.